晶體測試，愛普生Epson稱呼為CE測試（Crystal Evaluation)主要評估無源晶體回路特性，幫助客戶可靠的使用品體器件，評估客戶當(dāng)前電路板品體回路特性。常規(guī)測試是通過調(diào)節(jié)負(fù)載電容...

愛普生晶體部門針對廣大的石英晶振（無源晶振/晶體諧振器）客戶群體，一直以來有一項對晶體回路匹配的測試服務(wù)，很大程度上能節(jié)約客戶的研發(fā)時間和成本。我們稱之為晶體回路匹配分析（Circuit Evaluation），簡稱為CE測試...