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EPSON-NSCN晶體電路評估聯(lián)合測試中心正式運營
晶體測試,愛普生EPSON稱呼為CE測試(Crystal Evaluation)、晶體回路匹配測試,主要評估無源晶體回路特性,幫助客戶可靠的使用晶體器件,評估客戶當前電路板晶體回路特性。常規(guī)測試是通過調(diào)節(jié)負載電容等,來評估當前晶體回路的頻偏、起振能力(-R)、驅(qū)動功率。
近期,“EPSON-NSCN晶體電路評估聯(lián)合測試中心”正式運營,該中心是南山電子在愛普生的指導(dǎo)下成立的,且通過了愛普生的認證。
至此,南山電子可為您提供愛普生晶體CE測試服務(wù), 客戶提供原理圖和電路板,我們進行CL的調(diào)整,評估輸出頻率、驅(qū)動功率、起振能力,使其工作在一個穩(wěn)定的、適合的狀態(tài)。我們會在優(yōu)先不改變客戶回路基礎(chǔ)之上進行調(diào)節(jié)。
測試地點:EPSON-NSCN晶體電路評估聯(lián)合測試中心
地址:江蘇溧陽市昆侖街道金港路110號(江蘇南山電子工業(yè)有限公司)
聯(lián)系人:全清清(18112328586) 徐文波(13701585577)
如果您需要進行CE測試,請下載晶體CE測試表格,并按照以下的說明進行填寫,然后發(fā)給我們。
晶體CE測試表格填寫說明:
*客戶中英文名: |
xxxxxx |
*support voltage: |
adaper or VDD ?V |
*應(yīng)用: |
例如:手機,電腦,智能設(shè)備 |
IC供應(yīng)商: |
例如 TI、ST |
項目名稱: |
xxxxxx |
IC型號: |
xxxxxx |
date: |
xx/xx/xx |
Other request: |
xxxxxx |
*客戶聯(lián)絡(luò)人/電話: |
李某某/135******** |
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crystal |
describe |
Epson No |
item 1: |
YC1 |
FC-135R 32.768000 kHz 9.0+20.0-20.0 |
X1A0001410002 |
item 2: |
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item 3: |
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item N: |
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1.原理圖
需要表示出晶體回路器件編號。如果是多個測試晶體,可以放在一個原理圖中標出。下圖為示例:
2. 晶體回路的 PCB layout
需要標出晶體和負載電容位置。如果是多個測試晶體,可以放在一個layout中標出;如果有正面和反面測試,請?zhí)峁┱疵娴膒cb截圖。下圖為示例:
3. 實物位置圖
標出晶體實際位置在電路板上。如果有正反面,請標清楚晶體位置。下圖為示例:
4.供電方式,供電按鍵等示意圖
請引出供電線標注清楚供電電壓。有電源,請?zhí)峁┕╇婋娫矗挥邪存I開關(guān),請標注按鍵位置。下圖為示例:
注意:板子上的晶振必須是通電后能夠始終持續(xù)震蕩的,不可以間歇振蕩,并用標簽在板子上貼上貴司的名稱。
如果您需要進行CE測試,請下載晶體CE測試表格,并按照以上的說明進行填寫,然后發(fā)給我們。
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